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    • 單晶硅片測厚儀,硅片厚度測定儀,硅片厚度檢驗儀

      單晶硅片測厚儀,硅片厚度測定儀,硅片厚度檢驗儀采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

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      更新時間:2023-11-07
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      高精度CHY-C2A薄膜測厚儀(GB/T 6672)適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

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